Izvorni znanstveni članak
Mjerenje I − V karakteristike supervodiča subnanovoltnom rezolucijom
Željko Marohnić
; Institute of Physics of the University, P.O.Box 304, 41001 Zagreb, Croatia
Sažetak
Opisana je jedinstvena metoda direktnog mjerenja dinamičkog otpora (dV /dI) supravodiča sa rezolucijom od oko 0.1 nV. Istosmjerna struja ID sa dodatkom male sinusne komponente amplitude IA prolazi kroz uzorak. Izmjenična komponenta napona V na uzorku, proporcionalna sa dV /dI, pojačava se fazno-osjetljivim pojačalom, a numeričkim integriranjem dobiva se I-V krivulja. Osjetljivost ove metode demonstrirana je na uzorku (BiPb)2Sr2Ca2Cu3O10+y.
Ključne riječi
Hrčak ID:
299424
URI
Datum izdavanja:
1.3.1994.
Posjeta: 446 *