Skoči na glavni sadržaj

Izvorni znanstveni članak

Istraživanje nečiste i čiste (100) površine vanadija STM-om

Marko Kralj ; Institute of Physics, Zagreb, Croatia
Petra Pervan ; Institute of Physics, Zagreb, Croatia
Milorad Milun ; Institute of Physics, Zagreb, Croatia
Joerg Schneider ; Institute for Physical and Theoretical Chemistry, Bonn, Germany
Bernhard Schaefer ; Institute for Physical and Theoretical Chemistry, Bonn, Germany
Axel Rosenhahn ; Institute for Physical and Theoretical Chemistry, Bonn, Germany
Klaus Wandelt ; Institute for Physical and Theoretical Chemistry, Bonn, Germany


Puni tekst: engleski pdf 364 Kb

verzije

str. 123-130

preuzimanja: 35

citiraj


Sažetak

Primijenili smo skenirajući tunelirajući mikroskop (STM) za topografsku karakterizaciju površine V(100) prije i tijekom čišćenja u aparaturi za ultravisok vakuum, počevši s “dobivenim” uzorkom i nakon pojedinih postupaka čišćenja. Po prvi puta se pokazuju slike potpuno čiste površine V(100) s atomskim razlučivanjem, snimljene STM-om.

Ključne riječi

Hrčak ID:

300965

URI

https://hrcak.srce.hr/300965

Datum izdavanja:

1.7.1999.

Podaci na drugim jezicima: engleski

Posjeta: 186 *