Skoči na glavni sadržaj

Izvorni znanstveni članak

Ispitivanje tankih slojeva CeO2 pomoću elektronskog mikroskopa

M. Stipančić ; Electrotechnical Faculty, Banja Luka
M. Crnadak ; Electrotechnical Faculty, Banja Luka
S. Lugomer ; Electrotechnical Faculty, Banja Luka


Puni tekst: engleski pdf 1.195 Kb

str. 135-140

preuzimanja: 0

citiraj


Sažetak

U članku su opisana ispitivanja tankih slojeva CeO2 pomoću elektronskog mikroskopa, da bi se ustanovili utjecaji termalnog tretiranja i efekata starenja. Filmovi su bili podvrgnuti atmosferskom utjecaju kroz 6 mjeseci, a zatim termički tretirani u elektronskom mikroskopu na 400°C kroz 30 min., plus Ih na 550°C. Nikakve strukturne promjene, promjene veličine zrna ili gustoće pakovanja nisu primjećene.

Ključne riječi

Hrčak ID:

325471

URI

https://hrcak.srce.hr/325471

Datum izdavanja:

6.8.1979.

Podaci na drugim jezicima: engleski

Posjeta: 0 *