Tehnički vjesnik, Vol. 21 No. 4, 2014.
Izvorni znanstveni članak
Neki aspekti modeliranja reflektancijskog profila linijskog rasterskog elementa u okviru Monte Carlo metode
Krunoslav Hajdek
; University of Applied Sciences Varaždin, J. Križanića 33/6, Varaždin, Croatia
Petar Miljković
; Media University, Trg bana Jelačića 6, Koprivnica, Croatia
Damir Modrić
orcid.org/0000-0002-0110-2952
; Faculty of Graphic Arts, Getaldićeva 2, Zagreb, Croatia
Sažetak
Bolje razumijevanje kako unutarnje strukturne promjene utječu na optička svojstva papira zahtijeva modeliranje kompozitne strukture njegovih slojeva. Predložena je simulacija u okviru Monte Carlo platforme, koja omogućuje različite geometrijske reprezentacije unutarnje strukture papira. Monte Carlo simulacija je metoda koja se može koristiti za simulaciju interakcije fotona s podlogom (u našem slučaju papirom). Model se može graditi tako da se povećanje složenosti može dodati kako se model razvija. Dakle, model se razvija od jednostavnog koncepta generacije slučajnih brojeva u vrlo točno tumačenje širenja fotona u papiru. Navedeni model primijenjen je na analizu učinka prirasta rastertonske vrijednosti otisnutih linija raznih debljina. Rezultati simulacije dobro se slažu s mjerenjima refleksije nakon što je dodatno uvedena funkcija "filtar" koja trajno uklanja fotone čime smo prilagodili simulirane vrijednosti mjerenim. U okviru simulacije, možemo procijeniti broj fotona koji završava ispod rasterskog elementa i uzrokuje mogući optički prirast rastertonske vrijednosti.
Ključne riječi
Monte Carlo simulacija; optički prirast rastertonske vrijednosti; podpovršinsko raspršenje u papiru
Hrčak ID:
126073
URI
Datum izdavanja:
15.8.2014.
Posjeta: 2.171 *