Izvorni znanstveni članak

Profil sinhrontronske rengenske difrakcijske linije

Davor Balzar ; Materials Science and Engineering Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 325 Broadway, Boulder, CO 80303, U. S. A.; On leave from X-ray Laboratory, Division of Materials Research and Electronics, Physics Department, Ruđer Bošković Institute, P.O. Box 1016, 10001 Zagreb, Croatia
Peter W. Stephens ; National Synchrotron Light Source, Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, U. S. A.; On leave from Physics Department, State University of New York, Stony Brook, NY 11794, U. S. A.
Hassel Ledbetter ; Materials Science and Engineering Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 325 Broadway, Boulder, CO 80303, U. S. A.

Sažetak

Analizirali smo difrakcijske profile linija dobivenih na snopu X3B1 Nacionalnog sinhrotronskog izvora svjetlosti u Brookhavenu. Načinili smo usporedbe za razne uvjete i s više prilagodbenih funkcija. Prilagodbe primjenom najmanjih kvadrata za profile volframovih linija, koje su bile dekonvoluirane instrumentalnom funkcijom, pokazuju da Voigtova funkcija dobro opisuje fizičko proširenje profila linija.

Ključne riječi

Hrčak ID:

299840

URI

https://hrcak.srce.hr/299840

Datum izdavanja:

1.3.1997.

Podaci na drugim jezicima: engleski

Posjeta: 494 *