Izvorni znanstveni članak
XPS analiza biomaterijala primjenom nove metode kompenzacije naboja
Kevin S. Robinson
; Kratos Analytical Ltd., Urmston, Manchester M41 7LD, England
Hans Schmiedel
; VSI Vacuum Science Instruments GmbH, 65307 Bad Schwalbach, Germany
Sažetak
Važan problem rentgenske fotoelektronske spektroskopije polimera i drugih izolatora je neutralizacija naboja. Zbog promjenjivih potencijala na površini ispitivanog uzorka javlja se širenje vrhova pa i višestruki vrhovi. Niz uređaja AXIS pružaju sigurnu metodu kompenzacije naboja primjenom magnetske leće. Sustav omogućuje pouzdano određivanje malih energijskih pomaka u spektroskopiji i snimanju površina.
Ključne riječi
Hrčak ID:
299596
URI
Datum izdavanja:
2.5.1996.
Posjeta: 423 *