Izvorni znanstveni članak
Određivanje vremena života šupljina u CdTe pomoću efekata induciranih gama zraka i fotonima svjetlosti
U. V. Desnica
; Institute ,"Ruđer Bošković", Zagreb
N. B. Urli
; Institute ,"Ruđer Bošković", Zagreb
Sažetak
Za određivanje vremena života manjinskih nosilaca naboja u n-tipu CdTe dopiranom indijem korištene su dvije neovisne metode. Jedna se zasniva na mjerenju struje kratkog spoja izazvane djelovanjem gama zračenja u kobaltnom izvoru, a druga na fotovoltaičnom efektu uslijed fluksa monokromatskog svjetlosnog zračenja. Obje metode pretpostavljaju postojanje p-n prijelaza, koji je ostvaren nanošenjem zlatnog filma iz otopine na uzorke n-tip kadmijevog telurida. Postojeći teoretski izrazi za efikasnost sakupljanja fotogeneriranih nosilaca naboja prošireni su uzimajući u obzir i doprinos iz područja iscrpljenja. Ustanovljen je relativno velik kapacitet dioda, koji je pripisan vrlo uskom području iscrpljenja. Za vrijeme ozračavanja u kobaltnom izvoru mjerena je struja kratkog spoja u ovisnosti o primljenoj dozi. Vrijednosti za vrijeme života šupljina u CdTe (oko 5 · 10-10 s) dobivene dvjema metodama slažu se unutar eksperimentalnih pogrešaka.
Ključne riječi
Hrčak ID:
321597
URI
Datum izdavanja:
8.11.1971.
Posjeta: 0 *