Izvorni znanstveni članak

Mjerenje I − V karakteristike supervodiča subnanovoltnom rezolucijom

Željko Marohnić ; Institute of Physics of the University, P.O.Box 304, 41001 Zagreb, Croatia

Sažetak

Opisana je jedinstvena metoda direktnog mjerenja dinamičkog otpora (dV /dI) supravodiča sa rezolucijom od oko 0.1 nV. Istosmjerna struja ID sa dodatkom male sinusne komponente amplitude IA prolazi kroz uzorak. Izmjenična komponenta napona V na uzorku, proporcionalna sa dV /dI, pojačava se fazno-osjetljivim pojačalom, a numeričkim integriranjem dobiva se I-V krivulja. Osjetljivost ove metode demonstrirana je na uzorku (BiPb)2Sr2Ca2Cu3O10+y.

Ključne riječi

Hrčak ID:

299424

URI

https://hrcak.srce.hr/299424

Datum izdavanja:

1.3.1994.

Podaci na drugim jezicima: engleski

Posjeta: 218 *