Izvorni znanstveni članak
Priprema i karakterizacija C60/C70 + Ni polikristalnih tankih slojeva naraslih na raznim podlogama
Elzhieta Czerwosz
; Institute of Vacuum Technology, 00-241 Warsaw, Dluga 44/50, Poland
Przemystaw Byszewski
; Institute of Vacuum Technology, 00-241 Warsaw, Dluga 44/50, Poland; Institute of Physics, Polish Academy of Sciences, 02-628 Warsaw, al. Lotnikow 32/46, Poland
Piotr Dluzewski
; Institute of Physics, Polish Academy of Sciences, 02-628 Warsaw, al. Lotnikow 32/46, Poland
Halina Wronka
; Institute of Vacuum Technology, 00-241 Warsaw, Dluga 44/50, Poland
Ryszard Diduszko
; Institute of Vacuum Technology, 00-241 Warsaw, Dluga 44/50, Poland
Joanna Radomska
; Institute of Vacuum Technology, 00-241 Warsaw, Dluga 44/50, Poland
Mirostaw Kozlowski
; Institute of Vacuum Technology, 00-241 Warsaw, Dluga 44/50, Poland
Sažetak
Tanki slojevi C60/C70 + Ni dobiveni su toplinskim isparavanjem s koncentracijom Ni od 1.5 do 10 tež. %. Polikristalna struktura je opažena u slojevima s 1.5 tež. % Ni. Pomoću SEM je u takvim slojevima opažen stupčast rast zrna. Pomoću TEM ustanovljena su zrna duljine nekoliko µm i debljine 10-200 nm. Ispitivanja su načinjena također elektronskom i rendgenskom difrakcijom. U Ramanovim spektrima opažene su tipične vrpce fulerena pri 580 i 1100 cm−1 . Za koncentracije Ni iznad 1.5 tež. % opažena je degradacija strukture fulerena.
Ključne riječi
Hrčak ID:
299477
URI
Datum izdavanja:
2.5.1995.
Posjeta: 343 *