Original scientific paper
Ispitivanje zračenog volframa sa argon ionima 400 eV energije u elektrostatskom mikroskopu
B. Gregov
; Department of Electrical Engineering, The University of Alberta, Alberta, Canada
R. P. W. Lawson
; Department of Electrical Engineering, The University of Alberta, Alberta, Canada
Abstract
Elektrostatki mikroskop je upotrebljen za ispitivanje volframa izloženog zračenju sa argon ionima kod temperature od 63 K. Bombardiranje je vršeno u vakuumu od 10-11 mm Hg pozitivnim argon ionima 400 eV energije. Skupine praznina i međuprostornih atoma su nađene na površini zračenih uzoraka. Nakon odstranjivanja nekoliko površinskih slojeva atoma metodom isparivanja električnim poljem, defekti su prisutni na novo izloženoj površini, što ukazuje da je oštećenje prouzrokovano i u unutrašnjosti materijala. Iznesena je također mogućnost potpomognutog fokusiranja u smjeru [100] - zone.
Keywords
Hrčak ID:
321990
URI
Publication date:
3.12.1973.
Visits: 0 *