Fizika A, Vol. 6 No. 2, 1997.

Sadržaj

Puni tekst

Concentration profiles of elements and structure of a-Si1-xNx:H films (str. 61-66)

Koncentracijski profili elemenata i struktura tankih slojeva a-Si1-xNx:H (str. 61-66)

Vitaliy Gerasimov, Vladimir Mitsa
Izvorni znanstveni članak

A Riemann-Hilbert approach to polarized solitons in a three-level medium (str. 67-75)

Riemann–Hilbertov pristup polariziranim solitonima u sredstvu s tri nivoa (str. 67-75)

Sukanya Burman, Asesh Roy Chowdhury
Izvorni znanstveni članak

Transmission electron microscopy, x-ray diffraction and Raman scattering studies of nanophase TiO2 (str. 77-88)

Studij nanofaznog TiO2 elektronskom mikroskopijom, difrakcijom x-zračenja i Ramanovim raspršenjem (str. 77-88)

Aleksandra Turković, Anđelka Tonejc, Stanko Popović, Pavo Dubček, Mile Ivanda, Svetozar Musić, Marijan Gotić
Izvorni znanstveni članak

Non-uniform liquid in external field (str. 89-96)

L. A. Bulavin, D. A. Gavrushenko, V. M. Sysoev
Izvorni znanstveni članak

Silicon surface irradiated by nitrogen laser radiation (str. 97-102)

Površina silicija ozračena dušikovim laserskim zračenjem (str. 97-102)

Višnja Henč-Bartolić, Željko Andreić, Davor Gracin, Hans-Joachim Kunze, Mirko Stubičar
Izvorni znanstveni članak

Posjeta: 1.176 *