Pismo uredniku
Nov pristup za mjerenje indeksa loma dvoslojnih poly-S filmova
Ioanna Demakopoulou
; Department of Physics, Faculty of Natural Sciences, University of Prishtina, Yugoslavia
Jahja Kokaj
; Department of Physics, Faculty of Natural Sciences, University of Prishtina, Yugoslavia
Sažetak
Predložen je jedan interferometrijski pristup za mjerenje indeksa loma dvoslojnih poli-Si filmova. Mjerene su samo spektralne vrijednosti ωRmin, ωRmax, koji odgovaraju vrijednostima Rmin, Rmax reflektiranog spektra. Smatramo da je navedeni pristup efikasan za rutinsku kontrolu poli-Si filmova mnogoslojnih sistema.
Ključne riječi
Hrčak ID:
332039
URI
Datum izdavanja:
10.9.1991.
Posjeta: 320 *