Skoči na glavni sadržaj

Izvorni znanstveni članak

Neki aspekti modeliranja reflektancijskog profila linijskog rasterskog elementa u okviru Monte Carlo metode

Krunoslav Hajdek ; University of Applied Sciences Varaždin, J. Križanića 33/6, Varaždin, Croatia
Petar Miljković ; Media University, Trg bana Jelačića 6, Koprivnica, Croatia
Damir Modrić orcid id orcid.org/0000-0002-0110-2952 ; Faculty of Graphic Arts, Getaldićeva 2, Zagreb, Croatia


Puni tekst: hrvatski pdf 1.122 Kb

str. 779-788

preuzimanja: 330

citiraj

Puni tekst: engleski pdf 1.122 Kb

str. 779-788

preuzimanja: 397

citiraj


Sažetak

Bolje razumijevanje kako unutarnje strukturne promjene utječu na optička svojstva papira zahtijeva modeliranje kompozitne strukture njegovih slojeva. Predložena je simulacija u okviru Monte Carlo platforme, koja omogućuje različite geometrijske reprezentacije unutarnje strukture papira. Monte Carlo simulacija je metoda koja se može koristiti za simulaciju interakcije fotona s podlogom (u našem slučaju papirom). Model se može graditi tako da se povećanje složenosti može dodati kako se model razvija. Dakle, model se razvija od jednostavnog koncepta generacije slučajnih brojeva u vrlo točno tumačenje širenja fotona u papiru. Navedeni model primijenjen je na analizu učinka prirasta rastertonske vrijednosti otisnutih linija raznih debljina. Rezultati simulacije dobro se slažu s mjerenjima refleksije nakon što je dodatno uvedena funkcija "filtar" koja trajno uklanja fotone čime smo prilagodili simulirane vrijednosti mjerenim. U okviru simulacije, možemo procijeniti broj fotona koji završava ispod rasterskog elementa i uzrokuje mogući optički prirast rastertonske vrijednosti.

Ključne riječi

Monte Carlo simulacija, optički prirast rastertonske vrijednosti, podpovršinsko raspršenje u papiru

Hrčak ID:

126073

URI

https://hrcak.srce.hr/126073

Podaci na drugim jezicima: engleski

Posjeta: 1.220 *