Skip to the main content

Original scientific paper

Profil sinhrontronske rengenske difrakcijske linije

Davor Balzar ; Materials Science and Engineering Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 325 Broadway, Boulder, CO 80303, U. S. A.; On leave from X-ray Laboratory, Division of Materials Research and Electronics, Physics Department, Ruđer Bošković Institute, P.O. Box 1016, 10001 Zagreb, Croatia
Peter W. Stephens ; National Synchrotron Light Source, Brookhaven National Laboratory, Upton, NY 11973, U. S. A.; On leave from Physics Department, State University of New York, Stony Brook, NY 11794, U. S. A.
Hassel Ledbetter ; Materials Science and Engineering Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 325 Broadway, Boulder, CO 80303, U. S. A.


Full text: english pdf 87 Kb

page 41-50

downloads: 77

cite


Abstract

Analizirali smo difrakcijske profile linija dobivenih na snopu X3B1 Nacionalnog sinhrotronskog izvora svjetlosti u Brookhavenu. Načinili smo usporedbe za razne uvjete i s više prilagodbenih funkcija. Prilagodbe primjenom najmanjih kvadrata za profile volframovih linija, koje su bile dekonvoluirane instrumentalnom funkcijom, pokazuju da Voigtova funkcija dobro opisuje fizičko proširenje profila linija.

Keywords

Hrčak ID:

299840

URI

https://hrcak.srce.hr/299840

Publication date:

1.3.1997.

Article data in other languages: english

Visits: 470 *